NF EN 60749-40:2012
Dispositifs à semiconducteurs - Méthodes d'essais mécaniques et climatiques - Partie 40 : méthode d'essai de chute au niveau de la carte avec utilisation d'une jauge de contrainte

Standard No.

NF EN 60749-40:2012

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2012

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Association Francaise de Normalisation

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NF EN 60749-40:2012

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• 2012 NF EN 60749-40:2012 Dispositifs à semiconducteurs - Méthodes d'essais mécaniques et climatiques - Partie 40 : méthode d'essai de chute au niveau de la carte avec utilisation d'une jauge de contrainte