NF EN 60749-44:2016
Dispositifs à semiconducteurs - Méthodes d'essais mécaniques et climatiques - Partie 44 : méthode d'essai des effets d'un événement isolé (SEE) irradié par un faisceau de neutrons pour des dispositifs à semiconducteurs

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NF EN 60749-44:2016

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2016

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Association Francaise de Normalisation

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• 2016 NF EN 60749-44:2016 Dispositifs à semiconducteurs - Méthodes d'essais mécaniques et climatiques - Partie 44 : méthode d'essai des effets d'un événement isolé (SEE) irradié par un faisceau de neutrons pour des dispositifs à semiconducteurs