NF EN 60749-32:2003
Dispositifs à semiconducteurs - Méthodes d'essais mécaniques et climatiques - Partie 32 : inflammabilité des dispositifs à encapsulation plastique (cas d'une cause extérieure d'inflammation)

Standard No.

NF EN 60749-32:2003

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2003

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Association Francaise de Normalisation

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NF EN 60749-32:2003

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• 2003 NF EN 60749-32:2003 Dispositifs à semiconducteurs - Méthodes d'essais mécaniques et climatiques - Partie 32 : inflammabilité des dispositifs à encapsulation plastique (cas d'une cause extérieure d'inflammation)